SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374, SN74BCT8374ADW, SN74BCT8374ADWE4, SN74BCT8374ADWG4, SN74BCT8374ADWR, SN74BCT8374ADWRE4, SN74BCT8374ADWRG4, SN74BCT8374ANT, SN74BCT8374ANTE4

Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

На этой странице планируется добавить данные в ближайшем будущем.

Если Вы заинтереснованы в этой информации, пожалуйста, нажмите кнопку "Проголосовать". Это даст нам знать, какую информацию добавить в первую очередь. С одного IP-адреса принимается до 10 голосов в сутки.

Описание

Параметры

ПараметрSN74BCT8374ADWSN74BCT8374ADWE4SN74BCT8374ADWG4SN74BCT8374ADWRSN74BCT8374ADWRE4SN74BCT8374ADWRG4SN74BCT8374ANTSN74BCT8374ANTE4
Тип монтажа компонента на плату или в схему
Монтаж
ПоверхностныйПоверхностныйПоверхностныйПоверхностныйПоверхностныйПоверхностныйВ отверстияВ отверстия
Корпус микросхемы
Корпус
24-SOIC (7.5мм ширина)24-SOIC (7.5мм ширина)24-SOIC (7.5мм ширина)24-SOIC (7.5мм ширина)24-SOIC (7.5мм ширина)24-SOIC (7.5мм ширина)24-DIP (300 mil)24-DIP (300 mil)
Серия микросхем
Серия
74BCT
Производитель
Производитель
Texas Instruments
Рабочая температура
twork
0 ~ 70
Напряжение питания
Vsup
4.5 В ~ 5.5 В